主な論文
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A Method to Detect Open Defects in Wire Segments of On-Chip Power Grids
単著
半導体集積回路のチップ内電源グリッドの配線セグメントのオープン故障をテストする手法を提案
The 29th IEEE Asian Test Symposium
202011
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A Method to Detect Open Defects in Wire Segments of On-Chip Power Grids
単著
半導体集積回路のチップ内電源グリッドの配線セグメントのオープン故障をテストする手法を提案
The 29th IEEE Asian Test Symposium
202011
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